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鹽霧試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法中檢驗(yàn)條件及周期

作者:發(fā)布時(shí)間 : 2022-01-25 類型:權(quán)威檢測(cè)標(biāo)簽: 認(rèn)證證書(shū)

《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法》GB/T5170包含這些部分:

GB/T5170.1-2016《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第1部分:總則》

GB/T5170.2-2017《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第2部分:溫度試驗(yàn)設(shè)備》

GB/T5170.5-2016《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第5部分:濕熱試驗(yàn)設(shè)備》

GB/T5170.8-2017《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第8部分:鹽霧試驗(yàn)設(shè)備》

GB/T5170.9-2017《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第9部分:太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備》

GB/T5170.10-2017《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第10部分:高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備》

GB/T5170.11-2017《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第11部分:腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備》

GB/T5170.13-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)》

GB/T5170.14-2009《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》

GB/T5170.15-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)》

GB/T5170.16-2005 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)》

GB/T5170.17-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備》

GB/T5170.18-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備》

GB/T5170.19-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備》

GB/T5170.20-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備》

GB/T5170.21-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(隨機(jī))試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)》

檢驗(yàn)方法適用于對(duì)GB/T2423.17 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧》和GB/T2423.18《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)》標(biāo)準(zhǔn)中所有設(shè)備的檢驗(yàn)。也適用于類似設(shè)備的檢驗(yàn)。

對(duì)交變鹽霧試驗(yàn)所用濕熱設(shè)備的檢驗(yàn)參照GB/T5170.5-2016《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第5部分:濕熱試驗(yàn)設(shè)備》。

鹽霧試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)項(xiàng)目:1.溫度偏差;2.溫度波動(dòng)度;3.溫度均勻度;4.溫度指示誤差;5.溫度過(guò)沖量;6.溫度過(guò)沖恢復(fù)時(shí)間;7.鹽霧沉降率;8噪聲。

(檢驗(yàn)項(xiàng)目可按照GB/T2423.17 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧》、GB/T2423.18《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)》或者有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、合同的具體要求選擇。)

檢驗(yàn)用儀器要求:

1.溫度測(cè)量系統(tǒng)(溫度測(cè)量):溫度測(cè)量系統(tǒng)由鉑電阻、熱電偶等溫度傳感器與數(shù)據(jù)采集器組成,其最大允許誤差一般不超過(guò)±0.2℃;溫度測(cè)量系統(tǒng)在空氣中的響應(yīng)時(shí)間一般小于40s。

2.漏斗(鹽霧沉降量測(cè)量):水平面積80平方厘米的漏斗(所用材料應(yīng)耐鹽霧腐蝕)。

3.量筒(鹽霧沉降量測(cè)量):容量50ml的量筒,最大允許誤差一般不超過(guò)±0.5ml。

4.聲級(jí)計(jì)(噪聲測(cè)量):帶A計(jì)權(quán)的聲級(jí)計(jì),其最大允許誤差一般不超過(guò)±1dB。

檢驗(yàn)負(fù)載:設(shè)備檢驗(yàn)一般在空載條件下進(jìn)行,如在負(fù)載條件下檢驗(yàn),應(yīng)在檢驗(yàn)報(bào)告中說(shuō)明。

設(shè)備的檢驗(yàn)負(fù)載應(yīng)滿足以下條件:

1.負(fù)載的總質(zhì)量在每立方米工作空間容積內(nèi)放置不超過(guò)80kg;

2.負(fù)載的總體積不大于工作空間容積的1/5;

3.在垂直于主導(dǎo)風(fēng)向的任意截面上,負(fù)載面積之和應(yīng)不大于該處工作空間截面積的1/3,負(fù)載放置時(shí)不可阻塞氣流的流動(dòng)。

檢驗(yàn)負(fù)載的具體選擇也可以根據(jù)需要協(xié)商解決,或按照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行。

檢驗(yàn)條件:

1.氣候條件:溫度(15℃~35℃);相對(duì)濕度(不大于85%);氣壓(80kPa~106kPa)。

對(duì)大型設(shè)備或基于某種原因,設(shè)備不能在上述條件下進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí),應(yīng)把實(shí)際氣候條件記錄在檢驗(yàn)報(bào)告中。當(dāng)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求嚴(yán)格控制環(huán)境條件時(shí),應(yīng)在該標(biāo)準(zhǔn)中另行規(guī)定。

2.電源條件:符合設(shè)備使用的電源要求。

3.用水條件:符合設(shè)備使用的用水要求。

4.用氣條件:符合設(shè)備使用的用氣要求。

5.其他條件:設(shè)備周圍無(wú)強(qiáng)烈沖擊、振動(dòng)、電磁場(chǎng)及腐蝕性氣體存在,應(yīng)避免陽(yáng)光直射或其他冷熱源影響。

檢驗(yàn)周期:

1.正常使用的設(shè)備,檢驗(yàn)周期一般不超過(guò)一年。

2.對(duì)設(shè)備的主要部件(指對(duì)設(shè)備性能有直接影響的部件)維修或更換后,應(yīng)進(jìn)行檢驗(yàn)合格后方可使用。

3.設(shè)備在安裝調(diào)試之后或啟封重新使用之前均應(yīng)進(jìn)行檢驗(yàn)。

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