射線照相檢驗(yàn)詳細(xì)解讀
作者：發(fā)布時(shí)間 : 2024-07-23 類型：權(quán)威檢測標(biāo)簽： 認(rèn)證證書射線照相，是指用X射線或γ射線來檢測材料和工件、并以射線照相膠片作為記錄介質(zhì)和顯示方法的一種無損檢方法。射線照相檢測是利用X射線和γ射線的眾多特性（如感光），通過觀察記錄（感光）在射線照相膠片（底片）上的有關(guān)X射線或γ射線在被檢材料或工件中發(fā)生的衰減變化，來判定被檢材料和工件的內(nèi)部是否存在缺陷，從而在不破壞或不損害被檢材料和工件的情況下，評估其質(zhì)量和使用價(jià)值。
至少從20世紀(jì)六十年代以來，國內(nèi)外重要射線照相方法標(biāo)準(zhǔn)已明確地提出了射線照相技術(shù)級別，多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)中射線照相技術(shù)級別分為二個級別：A級——一般靈敏度技術(shù)和B級——高靈敏度技術(shù)。
技術(shù)規(guī)定
標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于射線照相技術(shù)級別主要是從下面三個方面進(jìn)行規(guī)定的：（1）射線照相技術(shù)選用的射線膠片類型；（2）射線照相的透照參數(shù)；（3）射線照片影像質(zhì)量。
技術(shù)分類
根據(jù)射線產(chǎn)生的方式不同，射線照相檢測可分為：以X射線管為射線源的X射線照相檢測、以放射性同位素為射線源的伽瑪射線照相檢測、以加速器為射線源的高能X射線照相檢測。
射線按其產(chǎn)生和特點(diǎn)常分為二類:電磁輻射和粒子輻射。而這里所指的射線照相檢驗(yàn)技術(shù)用的是X,γ射線。
雖然X射線、γ射線產(chǎn)生的機(jī)制不同,能量也可以不同,但它們的量子都是光量子(光子),都是電磁輻射。而α粒子、電子、中子和質(zhì)子等都是粒子輻射。
電磁輻射
電磁輻射通過光量子和物質(zhì)相互作用。光量子不帶電,在與物質(zhì)相互作用過程中,光量子的能量轉(zhuǎn)移給物質(zhì)原子的電子或轉(zhuǎn)化為其它粒子。在與物質(zhì)原子的一次碰撞中,損失其大部分能量或全部能量。在穿過物質(zhì)時(shí),其強(qiáng)度按指數(shù)規(guī)律減弱。對一定能區(qū)的電磁輻射,與物質(zhì)的相互作用主要有光電效應(yīng)、康普頓效應(yīng)、電子對效應(yīng)和瑞利散射。
粒子輻射
粒子輻射與物質(zhì)的相互作用與粒子的特性密切相關(guān)。例如,帶電粒子與物質(zhì)的相互作用主要有與核外電子發(fā)生非彈性碰撞、與原子核發(fā)生非彈性碰撞、與原子核發(fā)生彈性碰撞和與核外電子發(fā)生彈性碰撞。這些作用都是帶電粒子與庫侖場的作用,它們引起電離、激發(fā)、散射和各種形式的輻射損失。在帶電粒子與物質(zhì)的相互作用中,主要是通過與物質(zhì)原子的核外電子的多次非彈性碰撞逐漸損失能量,在一次碰撞中所轉(zhuǎn)移的能量很小。因此,一定能量的帶電粒子在物質(zhì)中有確定的射程。顯然,電磁輻射和粒子輻射具有明顯區(qū)別。
X射線和γ射線都是電磁波。X射線和γ射線具有眾多與眾不同的特性，如：折射系數(shù)接近于1，幾乎無折射；穿透能力強(qiáng)；僅在晶體光柵中才產(chǎn)生干涉和衍射現(xiàn)象；與某些物質(zhì)會發(fā)生電離作用、熒光作用、熱作用和光化學(xué)作用；較易衰減，并對不同物質(zhì)和密度，衰減系數(shù)明顯不同；易殺傷生物細(xì)胞，破壞生物組織等。
X射線
X射線是高速帶電粒子撞擊金屬時(shí)，在金屬原子核的庫侖場作用下急劇減速而伴隨發(fā)射的一種輻射。利用此原理制成的X射線管和加速器，就可以生產(chǎn)出射線照相檢測用的X射線和高能X射線（能量在 1 Mev 以上）。X射線的強(qiáng)度與X射線管的管電壓（kV）有關(guān)，管電壓越大，X射線的強(qiáng)度就越大，其穿透能力也就越強(qiáng)。加速器的情況亦如此。簡而言之，X射線的強(qiáng)度是可以控制的。
γ射線
γ射線是放射性同位素自發(fā)衰變而伴隨發(fā)射的一種輻射。射線照相檢測用的伽瑪射線，主要來自于鈷 60（Co-60）、銫 137（Cs-137）、銥 192（Ir-192）、銩 170（Tm-170）等放射性同位素源。伽瑪射線的強(qiáng)度與放射性同位素源的體積有關(guān)，源體積越大，伽瑪射線的強(qiáng)度就越大，其穿透能力也就越強(qiáng)。由于放射性同位素源的體積是隨衰變而變化的，因此，伽瑪射線的強(qiáng)度是不能控制的。
通常，射線照相檢測的過程是：由X射線管、加速器或放射性同位素源發(fā)射出X射線或伽瑪射線；射線透射進(jìn)入并穿越被檢材料或工件；穿越而出的射線隨后與放置于被檢材料和工件后的射線照相膠片發(fā)生光化學(xué)作用（即膠片感光）；然后將已感光的射線照相膠片進(jìn)行處理，得到一張以不同光學(xué)密度（圖像）的方式記錄和顯示被檢材料和工件內(nèi)部質(zhì)量密度的射線照相底片；最后，通過對射線照相底片進(jìn)行觀察，來分析和評價(jià)被檢材料或工件的內(nèi)部質(zhì)量。
